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G 電鏡標準樣 產品展示
掃描電鏡能譜檢測標樣X-Checker
掃描電鏡能譜檢測標樣X-Checker
X-Checker檢測標樣是第一個并且保有全系列標準物質,可以應用于監測SEM/EDS系統性能。若打算在較短時間內檢測手頭儀器的的性能,請選擇X-Checker。
AuSome? 金顆粒校準標樣(for SEM, FIB and FESEM)
AuSome? 金顆粒校準標樣(for SEM, FIB and FESEM)
AuSome? 金顆粒校準標樣,超高分辨率電鏡校準用標樣,這些已知直徑的金顆粒均勻被覆在硅片上,硅片大小5x5mm,厚0.5mm。納米呈像時作為納米尺度,校準因為聚焦、散光、工作距離等等的微調帶來的圖像的偏差。
144nm高分辨2D校準標樣(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
144nm高分辨2D校準標樣(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
144nm高分辨2D校準標樣,硅片大?。?*3*0.5mm,圖案由鋁金屬制的(高度大約90nm,寬75nm,此參數無校準,注意,其圖案布滿硅片),2D全息陣列,間距144nm,表層噴鍍鎢膜,精確度±1nm。
70nm超高分辨率校準標樣(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
70nm超高分辨率校準標樣(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
條紋70nm間距,一維排列,精確到±0.25nm。分帶證書和不帶證書兩類。提供的產品有兩種型號:Model 70-1D和Model 70-1DUTC。
透射電鏡校準標樣MAG*I*CAL
透射電鏡校準標樣MAG*I*CAL
這是一個世界上最微的尺子!已經申請世界吉尼斯紀錄!這個獨特的校準標樣直接溯源于硅晶體的晶格常數,它能用來對所有透射電鏡進行三項專業的標定和校正:放大倍率、相機常數、像與衍射花樣之間的磁轉角。
掃描電鏡線寬標樣
掃描電鏡線寬標樣
掃描電鏡測長物質常見的有兩種,一種線寬標準物質,一種粒度標準物質。線寬標準物質以單晶硅為基底,表面刻制金屬膜(鎢或者鈦)。周期性的線寬標準物質主要用于校準掃描電鏡放大倍率和進行長度的比對。
納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)
納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)
納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)直徑大小高度均一,具有NBS 的NIST認證,屬于Duke Scientific公司榮譽出品Nanosphere Size Standards?系列產品中的聚合體微球標準品(苯乙烯單體聚合而成)。
透射電鏡污染率測試標樣(碳粒金網)(Combined Test Specimen)
透射電鏡污染率測試標樣(碳粒金網)(Combined Test Specimen)
透射電鏡測試標樣:多孔碳薄膜覆蓋在鍍金的網上(直徑3.05mm),石墨化的碳顆粒沉積其上。
微分析元素標樣(MAC公司能譜標樣)
微分析元素標樣(MAC公司能譜標樣)
美國MAC公司提供一流的能譜標樣。用于能譜儀和波譜儀、X射線熒光分析儀、X射線分析儀等等
單晶硅標樣(基準10μm)
單晶硅標樣(基準10μm)
用于掃描電鏡放大倍數校準(同時評估圖象扭曲度),也可用于光學顯微鏡。5mm x 5mm見方,每10μm (0.01mm)有一方格,格與格之間分割線大約為1.9μm寬,每隔500μm有一稍寬的分隔線,用于光學顯微鏡檢測;分隔線和方格由光蝕刻形成,約200nm深。
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